XARION激光超声精密检测系统
奥地利XARION Laser Acoustics GmbH公司开发了一种非接触式光学麦克风，适用于过程监测和无损检测领域。XARION光学麦克风具有非接触和宽测量频率范围等优点，特别适合环境要求严苛、传统传感器无法胜任的应用场合。
与传统麦克风相比，XARION光学麦克风不包含机械可移动或物理可变形的部件。XARION传感器具有更宽的频率带宽，且不受机械共振的影响。XARION新颖的声学传感器适用于空气耦合的无损检测和无接触过程控制。能以更强大，更可靠的方式监视来自各种制造过程的超声辐射。结合激光激励源，光学麦克风解决了无损检测问题，包括以最高的精度对金属焊接点进行非接触式质量控制。
XARION无膜光学麦克风原理介绍
XARION激光超声精密检测系统技术特色--和欣佰特XARION授权代理协议证明
XARION激光超声精密检测系统产品组成
XARION 检测系统（High-Frequency Measurement System, HF-MES）包含的几个主要组件：光学麦克风（OM）、前置放大器（Pre-Amp）、A/D转换器（ADCs）和现场可编程门阵列（FPGA）。这个系统用于实时频谱分析，可以提供高达33000个频谱/秒的采样速度。
XARION光学麦克风10Hz~4MHz超宽声学带宽展示
XARION激光超声精密检测系统核心产品系列：
XARION激光超声包括精密检测系统核心产品系列主要包括激光超声精准过程监测系统Process Monitoring和激光超声精密无损检测系统Non-Destructive Testing.
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XARION |
激光超声精准过程监测系统（PM）Process Monitoring |
激光超声精密无损检测系统 （NDT）Non-Destructive Testing |
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技术特色 |
采用先进的激光干涉原理实现声波信号的捕捉，无需物理接触即可精准测量高频声学信号，具有极高的灵敏度和宽频响应特性。 |
凭借独创的激光超声成像技术，可在不破坏被测物体的情况下完成内部结构缺陷的高精度检测，尤其擅长解决复杂的材料分析难题。 |
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系统组成 |
光学麦克风测头，高频信号获取的分析系统，能实时记录和分析各种工艺过程中的声学信号。 |
高功率激光激发装置和高分辨率光学接收模块，形成一体化无损检测解决方案。 |
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主要功能 |
实时记录与分析工艺过程中的声学信号，优化生产流程，预防质量问题。 |
对金属、复合材料、陶瓷等结构进行内部裂纹、缺陷及完整性评估。 |
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应用场景 |
半导体制造、精密机械加工、航空航天材料检测、生物医学研究等；适用于极端温度、高压、真空、腐蚀性环境下的精密部件无损监测与控制。 |
广泛应用于能源、交通运输、建筑、科研等行业。 |
XARION光学麦克风过程监测应用和抗背景噪声展示
XARION激光超声无损检测系统NDT应用介绍
XARION激光超声精密检测系统型号及规格
XARION激光超声精密检测实验室系统:LEAsys
LEAsys 是针对从事复合材料、金属及粘接接头无损检测的研发实验室或研究机构的完美工具。该集成扫描解决方案将创新的 LEA 技术与高分辨率 x-y 扫描器以及实时数据分析软件相结合，无需使用水或耦合凝胶即可实现非接触式的高分辨率扫描。
硬件特性：
1. 激励激光器：提供多种脉冲重复频率选择，包括100 Hz、400 Hz或10,000 Hz，并支持热声激励模式。
2. 探测器：采用Eta450 Ultra光学麦克风，具有2 MHz的带宽。
3. 最小步进尺寸：可达10μm。
4. 扫描范围：有两种规格，分别为530 x 500mm和530 x 1000mm。
5. 数据采集系统：具备14位分辨率及50 MHz采样率。
软件特性：
1. 图形用户界面：用于设备控制与数据分析。
2. 实时显示功能：能够实时展示A扫描、B扫描和C扫描结果。
3. 软件层面上最小步进尺寸同样为10μm。
4. 快速傅里叶变换功能：实现频域分析。
5. 频谱分析功能：对信号进行频率成分深入分析。
XARION激光超声精密检测系统合作伙伴
